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蔡彦.死锁的概率检测.软件学报,,():
死锁的概率检测
Radius aware probabilistic testing of deadlocks with guarantees
  
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作者单位
蔡彦 中国科学院软件研究所 
摘要点击次数: 1166
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中文摘要:
      并发缺陷是由于某些事件按照一定的顺序发生而导致的,本文提出了一种基于缺陷半径的并发缺陷的概率检测方法RPro,并用于死锁的检测,且有概率保证。实验表明该方法可以显著提高死锁的检测概率。
英文摘要:
      CCF 软件工程专业委员会白晓颖教授(清华大学)推荐。 原文发表在 ASE 2016 Proceedings of the 31st IEEE/ACM International Conference on Automated Software Engineering。 全文链接:http://dx.doi.org/10.1145/2970276.2970307。 重要提示:读者如引用该文时请标注原文出处。
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